BACK TO LIST[ SESSION DETAILS / 세션 주요 내용 ]
Testing Challenge for Advanced Memory Devices
High band width memories and high data rate memories impacted on memory test and evaluation.
High bandwidth memory requires specialized testing environment due to extreme number of bumps. Specialized testing environment for measuring is proposed.
High data rate memory with multilevel signaling impacted to testing equipment.
첨단 메모리 디바이스의 테스트 과제
고대역폭 메모리(HBM)와 초고속 데이터 전송 메모리는 메모리 테스트 및 평가 방식에 큰 영향을 주고 있습니다.
HBM은 매우 많은 범프(Bump)를 사용하기 때문에 전용 테스트 환경이 필요하며, 이에 적합한 측정 환경을 제안합니다.
또한 다중 레벨 신호(Multilevel Signaling)를 사용하는 고속 메모리는 기존 테스트 장비에도 새로운 요구사항을 제시하고 있습니다.